Einsatzbereiche - automatischen Produktionslinien - In-line-Systeme - Single- oder Multisite-Test - Forschung und Entwicklung - Verifikation von Prototypen - Produktionscharakterisierung - Qualitätssicherung und Service
 Semiconductor-Serienfertigung IC-Multisite-Test mit CT300 Meteor Paralleltest von 32 Chips
Semiconductor-Serienfertigung Einsatz bei deutschen und österreichischen international führenden Unternehmen
Test von CMOS Kamera-Modulen und Image-Sensoren
Messverfahren, Standardtests - Kontaktierungstest - Kurzschlusstest - automatischer Waveformtest - Nutzung Digital Scope-Funktion - Kontaktierungstest - Analog- und High Speed Digital Tests - parallele IC-Programmierung
Einsatz der Systeme für den Test von Klein- und Großserien in der Halbleiterfertigung mit Steuerung verschiedener Handling-Systeme
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CT300 Satellite
Halbleiter-Tester
CT300 Meteor für Prototyping und Serienfertigung
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