Einsatzbereiche
- automatischen Produktionslinien
- In-line-Systeme
- Single- oder Multisite-Test
- Forschung und Entwicklung
- Verifikation von Prototypen
- Produktionscharakterisierung
- Qualitätssicherung und Service
Semiconductor-Serienfertigung
IC-Multisite-Test mit CT300 Meteor
Paralleltest von 32 Chips
Semiconductor-Serienfertigung
Einsatz bei deutschen und österreichischen
international führenden Unternehmen
Test von CMOS Kamera-Modulen und Image-Sensoren
Messverfahren, Standardtests
- Kontaktierungstest
- Kurzschlusstest
- automatischer Waveformtest
- Nutzung Digital Scope-Funktion
- Kontaktierungstest
- Analog- und High Speed Digital Tests
- parallele IC-Programmierung
Einsatz der Systeme für den Test von Klein- und Großserien in der
Halbleiterfertigung mit Steuerung verschiedener Handling-Systeme
Für weitere Informationen kontaktieren Sie uns einfach.
CT300 Satellite
Halbleiter-Tester
CT300 Meteor
für Prototyping und
Serienfertigung
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