Dr. Eschke Elektronik GmbH Headquarter Entwicklung, Produktion, Vertrieb und Support
  Wolfener Straße 32-34 / Haus J   D-12681 Berlin   info(at)dr-eschke.de   Telefon  +49 (0) 30 56701669
Deutschland Dr. Eschke Elektronik GmbH Region Südwest Vertrieb, Support, Service
Daimlerstrasse 14 D-79761 Waldshut-Tiengen Martin Böhler  m.boehler(at)dr-eschke.de  Telefon  +49 (0) 7741 1357
Deutschland Regionen Nord, Südost Vertrieb, Support, Service
ATEcare Service GmbH & Co. KG Kirchbergstr. 21 D-86551 Aichach Olaf Römer info(at)atecare.com   Telefon  +49 (0) 8131 318575-120 EXT www.ATEcare.net
Niederlande Vertrieb, Information
Prokorment, Niederlande Waterloop 3 NL-2614 XC Delft Hans Korpel      info(at)prokorment.nl   Telefon  +31 15 2121310
Firmengeschichte, Technik 2020 CT350 Comet T EH, Paralleltest Option Neue Module: DM1G, XIMP20, PSM2M Software: Ergänzungen Digitaltest, Ergänzungen Logging & Statistik, TCP/IP Interface, neue Funktionen 2017 Neue Module: SA5-E, AM30-4B, CDM24 Software: Ergänzungen CAN, neue Funktionen, CDM24, server-basierte Reparatur Station 2015 Neue Module: UEM3, XPR5, DM300-32HV Software: Ergänzungen Logging, neue Funktionen, Boundary Scan erweitert inkl. Integration Göpel-BST 2013 Kompakt-Tester CT350 Comet C, Steuermodul SM2-5 mit neuem Prozessor, Thermostreamer mit Kopplung an Testsysteme 2011 High Voltage Relaismatrix SC370, 370 Vss 2010 Testsystem für optoelektronische Messungen CT300 Satellite opt, Universelles Interface Modul UIF 2009 CT350 Comet T, Analogmodul AM30-4, Boundary Scan Test, Tester Operating System “TestOS4” 2007 Semiconductor- und Kombinationstester CT350 Comet R und CT3xx Power Rack, Digitalmodul mit Timing per Pin, neues PMU Modul und High Speed Scope Modul 2006 Semiconductor- und Komponententester CT350 Comet S, Innovative Scanner, neue Testverfahren, High Pin Count Interfaces 2005 High-Speed Kombinationstester Serie CT300 mit CT300 Galaxy, CT300 Meteor und CT300 Satellite, Testsystem für Eisenbahn-Sicherungstechnik T-B2 2004 Board-Tester, Semiconductor-Tester und Final- Tester CT300 Basic System mit USB2.0 Interface (480 MBit/s), High Voltage and Power Module, T-B1 Testsystem für Eisenbahn-Sicherungstechnik
2003 Neue MDA-Techniken, High Speed Logic, schnelle Impulsmessverfahren, Test Automotive- Module 2001 High Speed Kombinationstester CT250 und CT250M, Chip-Card-Tester DAT100-CD, Entwicklungen für High Speed Übertragungstechniken STM1, STM4 1999 ATM-Tester DAT-ATM für Test UTOPIA, CellBus, ATM-Übertragungstechniken mit Einsatz von RISC/DSP, ATM-Switches, GTL 1998 Funktionstester DAT500 mit 500 MS/s analogen und 100 MS/s 1024 digitalen Kanälen, Entwicklungen von Internetworking Units für ATM 1997 Tester DAT-IrDA für Infrarot-Sende-Empfangs- Bauelemente, Prüftechniken ATM, STM-1, STM-4 1996 Digital-Analog-Tester DAT100M mit 100 MS/s analogen und 1024 digitalen Kanälen, kundenspezifische Prüftechniken mit unseren Testbern für den Test von SPS-Bus, FAX-Bus, VME- Bus 1995 Digital-Analog-Tester DAT100 mit 100 MS/s analogen und 256 digitalen Kanälen, Entwicklung von Gigabit-Transceivern für Fiber Optic, Fiber Channel 1993 Digital-Tester DT30 mit 50 MS/s digitalen 88 Kanälen, Software für digitale Schutztechnik im Mittelspannungsbereich und Fernwirktechnik 1990 Digital-Tester DKTS-2 mit 30 MS/s digitalen 88 Kanälen, Entwicklungen für Fiber Optic TRX, FDDI
Gründung des Unternehmens 1990
Mehr als 750 Testsysteme sind international im Einsatz.
Deutschland Niederlande Österreich
Schweiz China Malaysia
Rumänien Slowenien Malta
Philippinen Singapur Ungarn
Norwegen Tschechien
Referenzen Referenzen
Verkauf nur an Unternehmen, technische Änderungen vorbehalten. © Dr. Eschke Elektronik GmbH. All rights reserved.