Funktionstest und In-Circuit Test   Modulares und kompaktes System    ICT-Testpunkte: max. 2736   CAD-Daten-Import   automatischer Programmgenerator   leistungsfähige Debugging Tools   Testabdeckungsanalyse   papierlose Reparaturstation   Logging- und Statistik-Funktionen   Nutzen- und Multisite-Test   Mixed Signal-Tests   300 MS/s digital, 1 GS/s analog   analoge Amplitudenauflösung 24 Bit
  schnelle Impulsmessverfahren   Vollgrafik-Funktionen   Interface Tester <=> PC: High Speed USB   kurze Testzeiten, hoher Durchsatz   Handler- und Adaptersteuerung   konkurrentes Engineering   vollständige Problemlösungen   schneller und zuverlässiger Support
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High Pin Count Interface
Besonderer Vorteil:       sehr schneller Adapterwechsel
Kompaktsystem auf fahrbarem Rack mit schwenkbarem Tester-Gehäuse
CT350 Comet mit High Pin Count Interface, integriertem PC, Monitor und Adapterkassette
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